一、試具區(qū)別

1. IP3X防塵試具

? 試具規(guī)格：采用直徑為2.5mm的金屬絲或探針，模擬固體異物（如工具、導(dǎo)線(xiàn)等）。

? 測(cè)試要求：試具不能完全進(jìn)入設(shè)備外殼，且不能觸及內(nèi)部帶電或運(yùn)動(dòng)部件。

2. IP40防塵試具

? 試具規(guī)格：使用直徑為1.0mm的金屬絲或探針，模擬更細(xì)小的固體異物（如昆蟲(chóng)、細(xì)屑等）。

? 測(cè)試要求：試具同樣不能完全進(jìn)入外殼，且不影響設(shè)備安全運(yùn)行。

二、防護(hù)等級(jí)差異

? IP3X：防護(hù)直徑大于2.5mm的固體異物侵入，例如防止工具、電線(xiàn)等意外接觸內(nèi)部部件。

IP3X試驗(yàn)探棒

產(chǎn)品概述：

符合IEC61032圖2試具C、IEC60529IP3、GB4208IP3、GB/T16842試具C、GB8898、IEC60065、IEC60598、GB7000等標(biāo)準(zhǔn)要求。用于防止手持工具觸及的防護(hù)檢驗(yàn)。

技術(shù)參數(shù)：

1、探棒長(zhǎng)度：100mm

2、探棒直徑：2.5mm

3、檔球直徑：35mm

4、手柄直徑：10mm

5、手柄長(zhǎng)度：100mm

●制帶3±0.3N推力。

? IP40：防護(hù)直徑大于1.0mm的固體異物侵入，防護(hù)精度更高，可阻擋更細(xì)小的物體（如昆蟲(chóng)、沙塵顆粒）。

IP4X試驗(yàn)探棒

產(chǎn)品概述：

符合IEC61032圖4試具D、IEC60529IP3、GB4208IP4、GB/T16842試具D、GB8898、IEC60065、IEC60598、GB7000等標(biāo)準(zhǔn)要求。用于防止手持金屬絲觸及的防護(hù)檢驗(yàn)。

技術(shù)參數(shù)：

1、探棒長(zhǎng)度：100mm

2、探棒直徑：1mm

3、檔球直徑：35mm

4、手柄直徑：10mm

5、手柄長(zhǎng)度：100mm

● 制帶1±0.1N推力。

三、應(yīng)用場(chǎng)景

1. IP3X的應(yīng)用

? 適用于對(duì)防塵要求中等的設(shè)備，如普通電機(jī)、工業(yè)控制面板、部分戶(hù)外燈具等，這些設(shè)備需要防止較大顆粒異物或工具誤觸內(nèi)部。

2. IP40的應(yīng)用

? 適用于對(duì)防塵要求更高的場(chǎng)景，如精密儀器（如傳感器、小型電子設(shè)備）、通信設(shè)備、汽車(chē)電子部件等，需抵御細(xì)小灰塵或昆蟲(chóng)侵入，避免影響設(shè)備性能。

總結(jié)

IP40比IP3X的防塵等級(jí)更高，試具更細(xì)，能防護(hù)更小的異物。選擇時(shí)需根據(jù)設(shè)備使用環(huán)境中的異物類(lèi)型（如顆粒大小）和防護(hù)需求，確保設(shè)備安全運(yùn)行。